凤凰彩票注册-凤凰彩票最新网址

凤凰彩票注册-凤凰彩票最新网址
官方微信
友情链接

[黄昆论坛]第342期:Cost-Effective Techniques for Analog Design, Analog Fault Coverage, and Fast and Accurate Testing of High Resolution ADCs

2019-05-31

报告题目:Cost-Effective Techniques for Analog Design, Analog Fault Coverage, and Fast and Accurate Testing of High Resolution ADCs

报告人:Prof. Degang Chen (IEEE Fellow, Junkins Chair Professor of Electrical and Computer Engineering, Iowa State University, USA)

报告时间:2019年6月11日(星期二) 上午10:00

报告地点:凤凰彩票注册2号楼303A会议室



关于我们
下载视频观看
联系方式
通信地址

北京市海淀区清华东路甲35号 北京912信箱 (100083)

电话

010-82304210/010-82305052(传真)

E-mail

semi@epluseo.com

交通地图
版权所有 ? 凤凰彩票注册

备案号:京ICP备05085259号 京公网安备110402500052 中国科学院半导体所声明

Baidu
sogou